dc.contributor.author
Rega, Niklas
dc.date.accessioned
2018-06-07T23:25:53Z
dc.date.available
2004-07-27T00:00:00.649Z
dc.identifier.uri
https://refubium.fu-berlin.de/handle/fub188/10480
dc.identifier.uri
http://dx.doi.org/10.17169/refubium-14678
dc.description
Titel, Inhalts-, Abbildungs- und Tabellenverzeichnis
1. Einleitung 1
2. Grundlagen 3
3. Präparation epitaktischen CuInSe2\- und Cu(In,Ga)Se2-Schichten auf GaAs 21
4. Strukturelle Eigenschaften der epitaktischen CuInSe2\- und Cu(In,Ga)Se2-Schichten 33
5. Optisch-aktive Defekte in CuInSe2 und Cu(In,Ga)Se2 53
6. Zusammenfassung & Ausblick 91
Literaturverzeichnis 95
Anhänge, Veröffentlichungen, Lebenslauf 103
dc.description.abstract
In dieser Arbeit werden Photolumineszenz untersuchungen an epitaktischen
Cu(In,Ga)Se2-Schichten vorgestellt. Die Untersuchung ist durch folgende
Beobachtung motiviert: CuGaSe2 basierte Solarzellen ereichen noch nicht mal
einen Wirkungsgrad von 10%, während die Effizienz von ähnlichen Solarzellen
aus Cu(In,Ga)Se2 mehr als 19% erreicht. Es stellt sich also die Frage:
Gibt es fundamentale Unterschiede in der Defektstruktur der Chalkopyrite
CuInSe2, Cu(In,Ga)Se2 und CuGaSe2, die diesen Unterschied erklären können?
Die Arbeit basiert auf den Ergebnissen einer früheren Untersuchung von A.
Bauknecht an CuGaSe2.
Die Cu(In,Ga)Se2-Schichten sind auf (001)-GaAs mittels metallorganischer
Gasphasen Epitaxie (MOCVD) abgeschieden worden. Die optimale
Wachstumstemperatur ist dabei abhängig vom Ga-Gehalt: TG=500°C für
[Ga]/([Ga]+[In])<0.3 und TG=570°C für [Ga]/([Ga]+[In])>0.3.
Das (001)-orientierte epitaktische Wachstum ist mit electron channeling
pattern (ECP) und electron diffraction pattern(EDP) nachgewiesen worden. Die
kristalline Qualität und die Gitterkonstanten a und c sind durch
hochauflösende Röntgenbeugung (HRXRD) und reciprocal space mappings (RSM)
bestimmt worden. Die Cu(In,Ga)Se2-Schichten, die bei TG=570°C abgeschieden
worden sind, weisen einen Ga-Gradienten im Bereich der Grenzfläche zum GaAs
auf, sowie eine CuGaSe2-Zwischenschicht direkt an der Grenzfläche, wie zum
einen mit EDX an einem scanning transmission electron mircoscope (STEM) als
auch in hochauflösenden Diffraktogrammen detektiert worden ist.
Das wichtigste Resultat der PL-Untersuchungen ist: Die intrinsischen
dotierenden Defekte in CuInSe2, Cu(In,Ga)Se2 und CuGaSe2 sind die gleichen.
Die Defektenergie nimmt mit steigendem Ga-Gehalt zu, wie es für
wasserstoffartige Defekte erwartet wird.
Temperatur- und Anregungsleistungsabhängige PL-Messungen zeigen, dass die
beobachteten Emissionen in CuInSe2-Schichten zwei Donator-Akzeptor-Paar
Übergängen DA1 bei 0.991eV und DA2 bei 0.972eV zugeordnet werden können. Der
Verlauf des PL-Spektrums und das Verhältnis der Intensitäten der Emissionen
hängt vom [Cu]/[In]-Verhältnis in der CuInSe2-Schicht ab. In Cu-reich Material
ist die DA2-Emission dominant, in nah-stöchiometrischen Material die
DA1-Emission. Cu-arme CuInSe2-Schichten zeigen eine rotverschobene und
asymmetrisch verbreiterte Emission, welche dem DA1-Übergang in fluktuierenden
Potenzialen entspricht, die durch einen hohen Kompensationsgrad bedingt sind.
Die Defektenergien der an den DAP-Übergängen beteiligten Akzeptoren sind
EA1=42(10)meV und EA2=55(22)meV. Die Defektenergie des dazugehörigen Donators
beträgt ED=12(5)meV.
Bei Cu(In,Ga)Se2 wird eine Verschiebung der PL-Emissionen zu höheren Energien
mit steigendem Ga-Gehalt entsprechend der Bandlücke beobachtet. Es wird ein
DAP-Übergang beobachtet, der für mittlere Ga-Gehalte [Ga]/([Ga]+[In])~0.3-0.7
stark verbreitert erscheint, was durch statistische Unordnung bedingt ist. Die
PL-Spektren der Cu(In,Ga)Se2-Schichten mit einem Ga-Gehalt von
[Ga]/([Ga]+[In])~0.8 sind von GaAs-Substrat-Lumineszenz überlagert.
Kathodolumineszenzmessungen am Querschnitt der Schichten mit einer Auflösung
von 30nm erlauben eine Trennung von Schicht- und Substrat-Lumineszenz.
Die defektkorrelierte Emission der Cu(In,Ga)Se2-Schichten ist durch einen
DA1-ähnlichen Übergang verursacht. Die Defektenergie des Akzeptors nimmt mit
ansteigendem Ga-Gehalt der Cu(In,Ga)Se2-Schicht zu, wie für einen
wasserstoffartigen Defekt erwartet wird.
Zum ersten Mal ist exzitonische Lumineszenz in PL- und CL-Messungen an
Cu(In,Ga)Se2-Schichten mit geringen Abweichungen von der reinen ternären
Komposition beobachtet worden ([Ga]/([Ga]+[In])<0.3 oder
[Ga]/([Ga]+[In])>0.7).
Die Antwort auf die eingangs gestellte Frage ist also: Es ist kein Unterschied
in der Defektstruktur, welcher den großen Unterschied in der Effizienz der
CuGaSe2 und Cu(In,Ga)Se2 Solarzellen bewirkt. Der Unterschied der Effizienz in
Cu(In,Ga)Se2 und CuGaSe2 Solarzellen ist nicht durch einen Unterschied in der
Struktur der dotierenden Defekte verursacht.
de
dc.description.abstract
In this thesis I report about the photoluminescence (PL) of epitaxial CuInSe2
and Cu(In,Ga)Se2-layers. The motivating question is:
Why CuGaSe2 solar cells do not even reach an efficiency of 10%, while the
related solar cells made of Cu(In,Ga)Se2 are so excellent (eta >19%)? Is there
a difference in the defect structure of the doping defects between the
chalcopyrites CuInSe2, Cu(In,Ga)Se2 and CuGaSe2, that would explain this
difference?
The work starts at a former study about the PL of CuGaSe2 from A. Bauknecht.
The Cu(In,Ga)Se2-layers are grown on (001) GaAs by metal organic vapor phase
epitaxy (MOVPE). The optimum growth temperature TG depends on the Ga-content
in the Cu(In,Ga)Se2-layer: TG=500°C for [Ga]/([Ga]+[In])<0.3 and TG=500°C for
[Ga]/([Ga]+[In])>0.3.
The (001) orientated epitaxial growth is verified by electron channeling
pattern (ECP) and electron diffraction pattern (EDP). Crystalline quality of
the Cu(In,Ga)Se2-layers and the lattice parameters a and c are determined by
high resolution x-ray diffraction (HRXRD) and reciprocal space mappings (RSM).
Cu(In,Ga)Se2-layers grown at a growth temperature of TG=570°C show a Ga-
gradient in the interface region between Cu(In,Ga)Se2 and GaAs, as well as a
CuGaSe2-intermediate layer directly at the interface, as detected by EMPA in a
scanning transmission electron microscope (STEM) and in high resolution
diffractograms.
The main result of the PL study is: The intrinsic doping defects in CuInSe2,
Cu(In,Ga)Se2 and CuGaSe2 are the same. The defect energy increases with the
Ga-content of the layers according to the hydrogen model of shallow defects.
In detail the temperature dependence and excitation dependence PL-spectra of
CuInSe2-layers identify two donor acceptor pair transitions DA1 at 0.991eV and
DA2 at 0.972eV. The shape of the PL-spectrum and relative ratio of the
emissions depends on the [Cu]/[In]-ratio in the cis-layer. In Cu-rich material
the DA2 emission is dominant, in near stoichiometric material the DA1
emission. Cu-poor CuInSe2-layers show a red-shifted and asymmetrically
broadened emission, which is due to the DA1 transition in fluctuating
potentials caused by a high degree of compensation. The defect energies for
the acceptors are EA1=42(5)meV and EA2=56(22)meV. The corresponding donor
defect energy is ED=12(5)meV.
For Cu(In,Ga)Se2 the PL-emissions shift to higher energies with increasing Ga-
content as the band gap widens. One donor acceptor pair emission is detected,
which broadens in layers with a medium Ga-content [Ga]/([Ga]+[In])~0.3-0.7 due
to statistical disorder. The PL-spectrum for Cu(In,Ga)Se2-layers with a Ga
content of [Ga]/([Ga]+[In])~0.8 are overlapped by the GaAs-substrate
luminescence. Cathodoluminescence measurements at the layer cross section with
a resolution of 30nm are performed to study the layer luminescence.
The defect correlated emission is caused by a DA1-like transmission. The
acceptor defect energy is increasing with increasing Ga-content as for a
hydrogen-like defect.
For the first time excitonic luminescence is detected by PL and CL
measurements at Cu(In,Ga)Se2-layers with small deviations from the pure
ternary compositions [Ga]/([Ga]+[In])<0.3 or [Ga]/([Ga]+[In])>0.7.
To answer the initial question: it is not a difference in the defect structure
that causes the difference in efficiencies between CuGaSe2 and Cu(In,Ga)Se2
solar cells.
en
dc.rights.uri
http://www.fu-berlin.de/sites/refubium/rechtliches/Nutzungsbedingungen
dc.subject
photoluminescence
dc.subject
78.55.Et 78.60.Hk 78.66.Hf 61.10.Nz
dc.subject.ddc
500 Naturwissenschaften und Mathematik::530 Physik::530 Physik
dc.title
Photolumineszenz epitaktischer Cu(In,Ga)Se2-Schichten
dc.contributor.firstReferee
Prof. Dr. Martha Ch. Lux-Steiner
dc.contributor.furtherReferee
Prof. Dr. William Brewer
dc.date.accepted
2004-05-05
dc.date.embargoEnd
2004-08-04
dc.identifier.urn
urn:nbn:de:kobv:188-2004001902
dc.title.translated
Photoluminescence of epitaxial Cu(In,Ga)Se2 layers
en
refubium.affiliation
Physik
de
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FUDISS_thesis_000000001494
refubium.mycore.transfer
http://www.diss.fu-berlin.de/2004/190/
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FUDISS_derivate_000000001494
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