dc.contributor.author
Thomas, Thomas
dc.date.accessioned
2018-06-07T17:36:35Z
dc.date.available
2016-09-16T07:31:19.694Z
dc.identifier.uri
https://refubium.fu-berlin.de/handle/fub188/4016
dc.identifier.uri
http://dx.doi.org/10.17169/refubium-8216
dc.description.abstract
The poor adhesion between electrolessly deposited copper and dielectric
materials is one of the major challenges in printed circuit board
manufacturing. For this reason, numerous methods of modifying dielectric
substrates have been developed and applied. Increasing the roughness of the
dielectric surface is the most used approach to improve interfacial adhesion
of copper plating on dielectric substrate. The future requirements of
microelectronics industry (high density interconnections with smaller features
and high frequency of transmission signal), require electroless deposition of
copper on smooth dielectric surface. At the same time, good adhesion must be
maintained. In this work, a novel surface treatment method using
functionalized silica nanoparticles is describe, to promote the adhesion of
electrolessly deposited copper on the surface of dielectric substrate without
additional roughening. The adhesion behavior of copper on the surface of
dielectric substrate treated with functionalized silica nanoparticles,
including various functional groups and sizes was investigated. Two
commercially available dielectric materials were used as substrate: ABF-GX 92
(epoxy resin) from Ajinomoto Film Technology Company, Inc. Japan, and
Kapton®200 H (Poly [N, N’-(oxydiphenylene)pyromellitimide]) from DuPont. In
the first part of this work, a surface modification method based on a
silylation process has been used to prepare silica nanoparticles of desired
size and surface functionality. Six types of functionalized silica
nanoparticles were prepared: 3-aminopropyl (AP-Monoamine),
N-(2-Aminoethyl)-3-Aminopropyl (AP-Diamine),
3-[2-(2-aminoethylamino)ethylamino]propyl (AP-Triamine), ureidopropyl (AP-
Ureido), glycidoxypropyl (AP-Glycidoxy), and mercaptopropyl (AP-Mercapto). In
the case of AP-Monoamine, three different sizes of nanoparticles were
prepared, AP-Monoamine S (TEM diameter = 14±3 nm), M (TEM diameter = 18±3 nm)
and L (TEM diameter = 44±6 nm). The modified particles have shown distinctive
changes in the surface properties, especially the isoelectric point (IEP). The
chemical derivatization method was used to determine the amount of amino
groups on AP-Monoamine, AP-Diamine and AP-Triamine nanoparticles surface
quantitatively. The characterization of the sample using TEM, DLS, zeta
potential, FTIR-ATR and UV-Vis indicates that multilayers of amino silane are
formed at the silica surface. The adhesion of copper on epoxy substrate
modified with functionalized silica nanoparticles was investigated. The
adhesion strength between copper and epoxy substrate has strong dependence on
the functional groups at silica nanoparticles surface. No adhesion improvement
was found when AP-Mercapto was used to modify the substrate, and only slight
improvement of adhesion strength was obtained when AP-Ureido and AP-Glycidoxy
were introduced at the interface. The introduction of the aminopropyl
functionalized silica nanoparticles (AP-Monoamine) on epoxy substrate surface
exhibit the highest adhesion strength improvement, from 0.6±0.1 N/cm to
9.2±0.3 N/cm with good thermal stability. Besides, the AP-Monoamine treatment
on epoxy substrate can be effective for increasing the palladium adsorption,
which is used as catalyst for electroless copper deposition. In particular, it
was demonstrated that the adhesion strength of copper on epoxy substrate
modified with AP-Monoamine M particles increased with the nanoparticles
concentration, immersion temperature and time. The adhesion strength of copper
on epoxy substrate treated with AP-Monoamine L (4.7±1.1 N/cm) is significantly
lower than AP-Monoamine S (8.8±0.2 N/cm) or AP-Monoamine M (9.2±0.3 N/cm),
because of the poor surface coverage by larger particles. It was also found
that the adhesion strength has strong dependence on the chain length of the
amine, following the order: monoamine (-NH2) > diamine (-NH-NH2) > triamine
(-NH-NH- NH2). From the peeled samples, it was confirmed that the failure
resulted in the cohesive of epoxy resin. The strong adhesion was attributed to
the strong interaction between aminopropyl groups of the AP-Monoamine with
palladium and copper, and the fact that the AP-Monoamine was covalently bonded
to the epoxy substrate surface. A significant different in the thermal
expansion coefficient between copper and epoxy substrate layer results in
tensile stress across the interface, leading to extensive delamination between
the two materials at elevated temperature. A similar experiment has been
conducted in order to obtained information about the influence of the
aminopropyl functionalized silica nanoparticles (AP-Monoamine) on the adhesion
behavior between copper and polyimide films, Kapton® 200 H. The adhesion
strength increased significantly, up to 15±0.1 N/cm, when AP-Monoamine M
applied on the polyimide film surface prior to copper plating. It was noticed
that for low concentration (0.8 g/l) of AP-Monoamine M, the adhesion strength
increases with immersion time. When the concentration of AP-Monoamine M is
higher than 1.6 g/l, the aggregation between particles is easily formed at
polyimide surface. It serves as weak boundary layer at copper/polyimide
interface after copper deposition, the driving force to the adhesion
degradation. Therefore, the adhesion strength decreased noticeably from 15±0.1
N/cm (1.6 g/l) to 3.2±0.2 N/cm (8 g/l). The strong adhesion of copper on
polyimide film treated with aminopropyl functionalized silica nanoparticles
contributed from: 1. the chemical reaction of imide species N(C=O) of
polyimide with aminopropyl functionalized silica nanoparticles to form amide
groups –NH-(C=O)– , 2. good affinity of aminopropyl groups to palladium or
copper atoms and ions, to form amino-, aquo- complex, 3. additional secondary
force (mechanical adhesion) from the anchoring of copper by filling the nano-
roughening structure of film surface treated with aminopropyl functionalized
silica nanoparticles.
de
dc.description.abstract
Die schlechte Adhäsion zwischen stromlos abgeschiedenem Kupfer und
Dielektrikum ist eine der größten Herausforderungen bei der Produktion von
Leiterplatten. Aus diesem Grund wurden zahlreiche Methoden zur Modifizierung
von dielektrischen Substraten entwickelt und angewendet. Am häufigsten wurde
die Rauheit der Oberfläche des Dielektrikums erhöht, um die
Grenzflächenhaftung bei der Verkupferung auf dielektrischen Materialien zu
verbessern. Die zukünftigen Anforderungen der Mikroelektronik-Industrie
verlangen eine stromlose Kupferabscheidung auf glatten dielektrischen
Oberflächen, wobei gleichzeitig die gute Adhäsion beibehalten werden muss. In
dieser Arbeit wurde eine neue Methode zur Oberflächenbehandlung mittels
funktionalisierter Silica-Nanopartikel verwendet. Dadurch konnte die Adhäsion
von stromlos abgeschiedenem Kupfer auf der dielektrischen Oberfläche ohne
zusätzliches Aufrauen gefördert werden. Es wurde das Adhäsionsverhalten von
Kupfer auf der Oberfläche von dielektrischen Materialien untersucht, die mit
unterschiedlich funktionalisierten und unterschiedlich großen Silica-
Nanopartikel behandelt wurden. Zwei handelsübliche dielektrische Materialien
wurden als Basismaterial verwendet: ABF-GX 92 (Epoxidharz) von Ajinomoto Film
Technology Company, Inc. Japan und Kapton®200 H
(Poly[N,N-(oxydiphenylen)pyromellitimid]) von DuPont. Im ersten Teil dieser
Arbeit wurde mittels einer Oberflächenmodifikationsmethode beim
Silylierungsprozess Silica-Nanopartikel mit unterschiedlichen Größen und
Funktionalitäten dargestellt. Sechs unterschiedlich funktionalisierte Silica-
Nanopartikel 3-aminopropyl (AP-Monoamine), N-(2-Aminoethyl)-3-Aminopropyl(AP-
Diamine), 3-[2-(2-aminoethylamino)ethylamino]propyl (AP-Triamine),
Ureidopropyl (AP-Ureido), Glycidoxypropyl (AP-Glycidoxy), und Mercaptopropyl
(AP-Mercapto) wurden synthetisiert. Im Fall von AP-Monoamine wurden drei
unterschiedliche Größen synthetisiert: AP-Monoamine S (TEM Durchmesser = 14±3
nm), M (TEM Durchmesser = 18±3 nm) und L (TEM Durchmesser = 44±6 nm). Die
modifizierten Partikel zeigen unverwechselbare Veränderungen ihrer
Oberflächeneigenschaften und unterscheiden sich insbesondere im Wert des
isoelektrischen Punkts (IEP). Mittels chemischer Derivatisierung wurden die
Aminogruppen auf der Nanopartikeloberfläche der AP-Monoamine, AP-Diamine und
AP-Triamine quantitativ im Photometer nachgewiesen. Die Charakterisierung der
Proben mit DLS, Zeta-Potential, FTIR-ATR und UV-Vis Spektroskopie weisen
darauf hin, dass sich Mehrfachschichten von Aminosilanen auf der Silica-
Oberfläche gebildet haben. Die Adhäsion von Kupfer auf Epoxidmaterial wurde
untersucht, das zuvor mit Silica-Nanopartikeln modifiziert worden war. Die
Adhäsionsstärke zwischen Kupfer und Epoxidmaterial hängt sehr stark von den
funktionellen Gruppen auf der Silica-Nanopartikeloberfläche ab. Bei der
Verwendung von AP-Mercapto zur Modifizierung des Substrates wurde keinerlei
Haftungsverbesserung festgestellt. Die Adhäsionskraft wurde durch die
Einführung von AP-Ureido- und AP-Glycidoxy-Gruppen an den Grenzflächen ein
wenig erhöht. Die Einführung von aminofunktionalisierten Silica-Nanopartikeln
(AP-Monoamine) auf der Epoxidsubstratoberfläche erhöhte die Adhäsionskraft von
0,6±0,1 N/cm auf 9,2±0,3 N/cm mit einer guten thermischen Stabilität.
Zusätzlich kann man mit der AP-Monoamine-Behandlung auf dem Epoxidmaterial die
Adsorption von Palladium erhöhen, das als Katalysator bei der stromlosen
Kupferabscheidung dient. Im Besonderen wurde gezeigt, wie die Adhäsionskraft
von Kupfer auf dem Epoxidmaterial, das mit AP-Monoamine M Partikeln
modifiziert wurde, mittels Nanopartikelkonzentration, Eintauchtemperatur und
Behandlungsdauer verbessert wurde. Die Adhäsionskraft von Kupfer auf
Epoxidmaterial, das mit AP-Monoamine L (4,7±1,1 N/cm) behandelt wurde, ist
aufgrund der niedrigen Oberflächenbedeckung der größeren Partikel deutlich
niedriger als bei Modifikation mit AP-Monoamine S (8,8±0,2 N/cm) oder AP-
Monoamine M (9,2±0,3 N/cm). Die Untersuchungen haben zusätzlich ergeben, dass
die Kettenlänge der verwendeten Amine ebenfalls einen starken Einfluss auf die
Adhäsionskraft hat; dabei gilt der Reihenfolge nach: Monoamin (-NH2) ˃ Diamin
(NH-NH2) ˃ Triamin (NH-NH-NH2). Von den in Abzugstests abgeschälten Proben
konnte bestätigt werden, dass das Haftungsversagen nun durch Kohäsionsbruch im
Basismaterial verursacht wird. Die große Adhäsion zwischen Kupfer und
Epoxidmaterial entsteht einerseits durch die starke Interaktion zwischen den
Aminopropylgruppen der AP-Monoamine mit Palladium und Kupfer und andererseits
durch eine kovalente Bindung der AP-Monoamine an die Oberfläche des
Epoxidmaterials. Der signifikante Unterschied im thermischen
Expansionskoeffizienten zwischen Kupfer und den Schichten des Epoxidmaterials
führt zu einer Zugspannung quer über die gesamte Grenzfläche. Dies sorgt für
eine umfangreiche Delaminierung zwischen den beiden Materialien bei erhöhter
Temperatur. Weitere Untersuchungen wurden durchgeführt, um Informationen über
den Einfluss von aminopropyl-funktionalisierten Silica-Nanopartikeln (AP-
Monoamine) auf die Adhäsion zwischen Kupfer und Polyimidfilm Kapton® 200 H zu
erhalten. Die Adhäsionskraft wurde erheblich erhöht, auf bis zu 15±0,1 N/cm,
als AP-Monoamine M vor der Kupfermetallisierung auf die Polyimidfilmoberfläche
aufgebracht wurde. Es wurde festgestellt, dass bei geringer Konzentration (0,8
g/L) des AP-Monoamine M die Adhäsionskraft mit der Eintauchzeit steigt. Wenn
die Konzentration des AP-Monoamine M mehr als 1,6 g/L beträgt, kommt es zur
Ausfällung der Partikel auf der Polyimidoberfläche. Dies erzeugt eine schwache
Grenzschicht zwischen Kupfer und Polyimid nach der Kupferabscheidung, was zu
einer starken Abnahme der Adhäsion führt. Die Adhäsionskraft des Kupfers sinkt
beträchtlich von 15±0,1 N/cm (1,6 g/L) auf 3,2±0,2 N/cm (8 g/L). Die starke
Adhäsion von Kupfer auf dem Polyimidfilm, der mit aminopropyl-
funktionalisierten Silica-Nanopartikeln behandelt wurde, ist auf folgende
Gründe zurückzuführen: 1\. Die Imid-Spezies N(C=O) des Polyimids formt mit den
aminopropyl-funktionalisierten Silica-Nanopartikeln Amidgruppen –NH-(C=O)-.
2\. Aminopropylgruppen haben eine gute Affinität zu Palladium- oder
Kupferatomen und -Ionen und können Amino- oder Aquakomplexe formen. 3\. Eine
zusätzliche sekundäre Kraft (mechanische Adhäsion) wird von der Verankerung
von Kupfer in den Füllstellen der durch die aufgetragenen aminopropyl-
funktionalisierten Silica-Nanopartikel gebildeten nanogerauten Oberfläche
(additive Rauigkeit) des Polyimidfilms erzeugt.
de
dc.format.extent
xvii, 192 Seiten
dc.rights.uri
http://www.fu-berlin.de/sites/refubium/rechtliches/Nutzungsbedingungen
dc.subject
Printed circuit board
dc.subject
functionalized silica nanoparticles
dc.subject.ddc
500 Naturwissenschaften und Mathematik::540 Chemie::541 Physikalische Chemie
dc.title
Development of a New Adhesion Promoter for Metal Adhesion on Polymer
Substrates for Printed Circuit Board Production Using Functionalized Silica
Nanoparticles
dc.contributor.contact
thomas.thomas19820618@gmail.com
dc.contributor.firstReferee
Priv.-Doz. Dr. Constanze Donner
dc.contributor.furtherReferee
Prof. Dr. Christina Maria Graf
dc.date.accepted
2016-09-08
dc.identifier.urn
urn:nbn:de:kobv:188-fudissthesis000000102959-8
dc.title.translated
Entwicklung eines neuen Haftvermittlers aus funktionalisierten Silica-
Nanopartikel, zur Verbesserung der Metallbeschichtung von Polymerleiterplatten
de
refubium.affiliation
Biologie, Chemie, Pharmazie
de
refubium.mycore.fudocsId
FUDISS_thesis_000000102959
refubium.mycore.derivateId
FUDISS_derivate_000000019971
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open access