dc.contributor.author
Grabowsky, Simon
dc.date.accessioned
2018-06-07T15:17:15Z
dc.date.available
2010-02-25T13:08:38.937Z
dc.identifier.uri
https://refubium.fu-berlin.de/handle/fub188/840
dc.identifier.uri
http://dx.doi.org/10.17169/refubium-5042
dc.description.abstract
A study of the X–O–X linkage with X being carbon or silicon was performed in
this doctoral thesis, i.e. siloxanes (Si–O–Si), silyl ethers (Si–O–C), open-
chain ethers and epoxides (C–O–C) were examined. For this purpose, high-
resolution X-ray diffraction experiments on single crystals were carried out
at low temperatures employing mainly synchrotron radiation (HASYLAB, Hamburg,
and APS, Chicago). Additionally, ab-initio calculations were performed on
model compounds and on the scrutinised molecules. From these experiments and
calculations, electron-density (ED) distribution and electron localizability
indicator (ELI) were determined and topologically analysed. New tools like the
source function were employed to interpret the obtained topologies. In this
doctoral thesis, determination of the experimental ELI was rendered possible
for the first time by making the ELI formula accessible to a constrained wave
function. Features of this new experimental ELI were studied, and the first
chemical interpretation of a full topological analysis of the theoretical ELI
was carried out additionally. Disiloxane H3SiOSiH3, methoxysilane H3SiOCH3,
and dimethylether H3COCH3 as well as corresponding hydrogen-bonded complexes
with silanol and water as donors served as model compounds. Potential-energy
surface (PES) scans were performed by variation of the X–O–X angle from 50 deg
to 180 deg, from which resulted that ionic Si–O bonds become even more ionic
and stronger with increasing angle, but significant covalent contributions mix
into the bond character at small angles. Covalent C–O bonds are strongest and
most covalent near the energetical minimum angle. X–O–X linkages become more
basic with decreasing angles and thus hydrogen bonds become stronger. This is
most pronounced for the siloxane linkage, which is not a competitive hydrogen-
bonding acceptor at large and medium X–O–X angles, but at small ones. Hydrogen
bonding is generally feasible in siloxanes for Si–O–Si angles between 85 deg
and 165 deg, but not at larger or smaller angles, respectively. This is
confirmed by the finding of topological catastrophes in the ED and ELI of
disiloxane, which are not found in methoxysilane and dimethylether.
Predictions from the PES scans were verified experimentally. Measured siloxane
cpds. 1 and 2 comprise strained Si–O–Si linkages around 115 deg incorporated
into five-membered rings. They indeed exhibit exceptional hydrogen bonds, even
weak C–H...O interactions. Siloxane cpds. 3 and 4 comprise relaxed Si–O–Si
linkages (162 deg and 180 deg) and no hydrogen bonds. Typical shapes of oxygen
lone pairs dependent on the Si–O–Si angle as predicted by the PES scans were
confirmed experimentally. Results for cpd. 5 containing silyl-ether linkages
were derived from a periodicboundary calculation. Results of ether linkages in
sucrose (cpd.6) were compared. The concept of submolecular transferability was
found to be valid also for ELI results. Unsubstituted epoxide (cpd. 7) and
epoxides substituted with electron-withdrawing groups (cpds. 8 to 10) contain
bent C–O and C–C bonds, which manifests itself differently in ED and ELI.
Electron-withdrawing effects of the substituents were detected in the
electronic properties. In terms of the source function, Si–O bonds are
sensitive to the chemical environment while C–O bonds are not. The new
experimental ELI proved to yield the correct topology qualitatively and
quantitatively, thus making it suitable for future chemical application.
de
dc.description.abstract
Siloxane (Si–O–Si), Silylether (Si–O–C), offene Ether und Epoxide (C–O–C)
wurden als systematische Reihe von X–O–X-Verknüpfungen in der vorliegenden
Doktorarbeit untersucht. Dafür wurden sowohl hochauflösende
Röntgenbeugungsexperimente an Einkristallen bei niedrigen Temperaturen
durchgeführt - hauptsächlich unter Verwendung von Synchrotronstrahlung
(HASYLAB in Hamburg und APS in Chicago) - als auch quantenchemische Rechnungen
an den untersuchten Molekülen sowie an entsprechenden Modellverbindungen. Aus
Experiment und Theorie wurden die Elektronendichteverteilung (ED) und der
Elektronenlokalisierbarkeitsindikator (ELI) bestimmt sowie topologisch
analysiert, wobei auch neue Hilfsmittel wie die ,,Source Function” zur
Anwendung kamen. Die Bestimmung des ELI aus dem Experiment über eine
sogenannte experimentelle Wellenfunktion wurde in dieser Doktorarbeit erstmals
ermöglicht und die Eigenschaften dieses neuen experimentellen ELI untersucht.
Darüber hinaus wurde zum ersten Mal eine chemische Interpretation der
vollständigen Topologie des theoretischen ELI vorgenommen. Als
Modellverbindungen dienten Disiloxan H3SiOSiH3, Methoxysilan H3SiOCH3 und
Dimethylether H3COCH3 sowie entsprechende Wasserstoffbrückenkomplexe mit
Silanol und Wasser als Donoren. An diesen wurden Scans der
Potentialenergiefläche (PES) unter Variation des X–O–X-Winkels von 50 Grad bis
180 Grad durchgeführt. Es zeigte sich, dass die ionische Si–O-Bindung mit
größer werdendem Winkel noch ionischer sowie stärker wird, was auch bedeutet,
dass sie bei kleinem Winkel deutlich kovalente Anteile besitzt. Die kovalente
C–O-Bindung ist am stärksten und am kovalentesten nahe des energetischen
Minimumwinkels. Die X–O–X-Verknüpfungen werden umso basischer, je kleiner der
Winkel wird, und desto stärker werden folglich die Wasserstoffbrücken. Dies
wurde für die Siloxan-Verknüpfung am deutlichsten, die bei großem und
mittlerem Winkel ein schlechter Akzeptor, bei kleinem Winkel aber ein guter
ist. Wasserstoffbrücken sind in Siloxanen prinzipiell bei einem Si–O–Si-Winkel
zwischen 85 Grad und 165 Grad möglich, nicht aber bei höherem bzw. niedrigerem
Winkel. Bestätigt wurde dies durch das Auftreten topologischer Katastrophen in
der ED und dem ELI bei Disiloxan, die bei Methoxysilan und Dimethylether nicht
gefunden wurden. Die Voraussagen durch die PES-Scans wurden experimentell
verifiziert. Die gemessenen Siloxanverbindungen 1 und 2 beinhalten gespannte
Si–O–Si-Einheiten von ca. 115 Grad in fünfgliedrigen Ringen. Sie bilden
tatsächlich Wasserstoffbrücken als Akzeptoren aus, sogar schwache
C–H...O-Wechselwirkungen. Verb. 3 und 4, die entspannte Si–O–Si-Einheiten von
162 Grad und 180 Grad aufweisen, besitzen keine Wasserstoffbrücken im
Kristallverbund. Es wurden in den PES-Scans typische Formen der freien
Elektronenpaare am Sauerstoff in Abhängigkeit vom Winkel gefunden, die
experimentell bestätigt werden konnten. Die Ergebnisse für Verb. 5, die
Silylether-Einheiten trägt, stammen aus periodischen Rechnungen wie auch
Vergleichsdaten für Ethergruppen in Saccharose (Verb. 6). Es wurde gefunden,
dass das Konzept submolekularer Transferierbarkeit auch für ELI-Eigenschaften
gilt. Unsubstituiertes Epoxid (Verb. 7) sowie mit elektronenziehenden Gruppen
substituierte Epoxide (Verb. 8 bis 10) weisen gebogene C–O- und C–C-Bindungen
auf, die sich in ED und ELI unterschiedlich manifestieren. Die ,,Source
Function” reagiert für Si–O-Bindungen sensibel auf Veränderungen in der
chemischen Umgebung, nicht jedoch für C–O-Bindungen. Anhand der Epoxide konnte
auch gezeigt werden, dass der neue experimentelle ELI qualitativ und
quantitativ die korrekte Topologie ausbildet, was zukünftige Anwendungen in
Aussicht stellt.
de
dc.format.extent
XIV, 399 S.
dc.rights.uri
http://www.fu-berlin.de/sites/refubium/rechtliches/Nutzungsbedingungen
dc.subject
electron density
dc.subject
charge density
dc.subject
electron localizability indicator ELI
dc.subject
electron-pair localization
dc.subject.ddc
500 Naturwissenschaften und Mathematik::540 Chemie
dc.title
New methods in the analysis of electron density and electron localizability -
applications to X-O-X systems (X = C, Si)
dc.contributor.contact
vongrabo@chemie.fu-berlin.de
dc.contributor.firstReferee
Prof. Dr. Peter Luger
dc.contributor.furtherReferee
Prof. Dr. Jens Beckmann
dc.date.accepted
2010-02-12
dc.identifier.urn
urn:nbn:de:kobv:188-fudissthesis000000015999-5
dc.title.translated
Neue Analysemethoden für Elektronendichte und Elektronenlokalisierbarkeit
anhand von X-O-X-Systemen (X = C, Si)
de
refubium.affiliation
Biologie, Chemie, Pharmazie
de
refubium.mycore.fudocsId
FUDISS_thesis_000000015999
refubium.mycore.derivateId
FUDISS_derivate_000000007103
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free
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open access