dc.contributor.author
Ott, Holger
dc.date.accessioned
2018-06-07T21:59:40Z
dc.date.available
2004-07-23T00:00:00.649Z
dc.identifier.uri
https://refubium.fu-berlin.de/handle/fub188/8711
dc.identifier.uri
http://dx.doi.org/10.17169/refubium-12910
dc.description
Title page
Abstract and Kurzzusammenfassung
Contents and Introduction 1
1\. Magnetic properties of heavy lanthanide metals 7
2\. Experimental methods 15
3\. Technical details 31
4\. Magnetic soft x-ray scattering at the Ho MV absorption threshold 41
5\. Magnetic properties of ultrathin Ho films 59
6\. Magnetic depth profile across the first-order phase transition in Dy
films 81
Summary and Perspectives 95
Appendix 99
Bibliography 103
Acknowledgments 117
Zusammenfassung 121
dc.description.abstract
This dissertation presents a systematic study of thickness-dependent magnetic
structures and phase transitions in helical-antiferromagnetic ultrathin
lanthanide-metal films. The advance into the thickness range, where the
magnetic properties are strongly altered by finite-size effects, became
feasible with the development of resonant magnetic soft x-ray scattering using
synchrotron radiation and the design and construction of an ultra-high-vacuum
compatible diffractometer, carried out in this work.
The scattering process at the Ho and Dy MV resonances was characterized in
detail for the first time, including the optical parameters as well as the
absolute values of the circular-dichroic and linear-dichroic components of the
resonant scattering amplitude; the Ho MV resonance reveals scattering
amplitudes up to 200 r0, which is of the order of magnitude as predicted by
Hannon et al. [Phys. Rev. Lett. 61, 1245 (1988)], and which corresponds to a
resonant enhancement of the magnetic-scattering cross section of more than
seven orders of magnitude, opening up new opportunities for the study of thin
films. A comparison with magnetic neutron scattering on identical samples
demonstrated the enormous potential of the new method.
The thickness dependence of the magnetic structure and magnetic ordering
temperature of Ho films was investigated down to a film thickness of 10
monolayers, which is of the order of the magnetic period length itself. It
turned out that the magnetic structure of films thinner than about 15
monolayers is strongly altered. The development of the magnetic structure with
decreasing film thickness is different for films with different interfaces,
while the thickness dependence of the magnetic ordering temperature is
essentially the same for all films studied, and is qualitatively different
from the behavior of ferromagnets. It can be described by a phenomenological
scaling law including an offset thickness d0, which can be understood as a
minimum thickness to establish the antiferromagnetic structure. This behavior
appears to be a general property of long-period antiferromagnets, and can be
understood on the basis of mean-field calculations.
The extremely high sensitivity of resonant magnetic scattering at the
lanthanide MV resonance even permits critical-scattering studies above the
magnetic ordering temperature in ultrathin Ho films. The data give strong
evidence that the films undergo a dimensional crossover in the thickness
region where the magnetic ordering temperature is significantly reduced and
where a strong deviation of the magnetic structure from that of the bulk has
been identified.
Another and also new application of resonant magnetic soft x-ray scattering
makes use of the dramatic change of the photon mean-free path at a strong
resonances. The resulting tunability of the probing depth was utilized to
characterize the depth-dependent magnetization profile at the first-order
phase transition between the ferromagnetic and the helical antiferromagnetic
phase of Dy films grown on W(110).
The results of the present dissertation open the way to further studies of
complex magnetic structures in lanthanide-based materials and thin films.
de
dc.description.abstract
Die vorliegende Dissertation beschäftigt sich mit der
Schichtdickenabhängigkeit von magnetischen Strukturen und Phasenübergängen in
helikal antiferromagnetischen, ultradünnen Lanthanidmetallfilmen. Mittels
neuer methodischer und instrumenteller Entwicklungen im Bereich resonanter
magnetischer Röntgenstreuung im weichen Röntgenbereich mit
Synchrotronstrahlung, konnten magnetische Strukturen erstmals in einem
Schichtdickenbereich untersucht werden, in dem sie stark von Finite-Size- und
Grenzflächeneffekten beeinflusst werden.
Zur Charakterisierung des Streuprozesses an den MV Absorptionskanten wurden
sowohl die optischen Parameter als auch die Absolutbeträge der
zirkulardichroischen und lineardichroischen Beiträge zur resonanten
Streuamplitude quantitativ bestimmt. An der Ho MV Resonanz wurde eine
Streuamplitude von bis zu 200 r0 gefunden, was einer resonanten Erhöhung des
magnetischen Streuquerschnitts um sieben Größenordnungen entspricht und eine
Vielzahl neuer Möglichkeiten zur Untersuchung dünner Filme eröffnet. Ein
Vergleich der resonanten magnetischen Streuung im weichen Röntgenbereich mit
magnetischer Neutronenstreuung demonstriert das enorme Potential dieser neuen
Methode.
Die Schichtdickenabhängigkeit der magnetischen Struktur und der
Ordnungstemperatur ultradünner Ho Filmen wurde untersucht. Während sich die
magnetische Struktur von Filmen mit unterschiedlichen Grenzflächen beim
Übergang zu dünnen Filmen stark unterscheidet, zeigt die Ordnungstemperatur
aller hier untersuchter Systeme dieselbe Schichtdickenabhängigkeit. Es konnte
gezeigt werden, dass die Absenkung der magnetischen Ordnungstemperatur mit der
Filmdicke sich qualitativ vom bekannten Verhalten von Ferromagneten
unterscheidet. Das Verhalten kann mit einem phänomenologischen Skalengesetz
beschrieben werden, welches auf der Grundlage einer Molekularfeldrechnung
verstanden wird. Es stellt sich heraus, dass dieses Verhalten generell für
langperiodisch antiferromagnetische Strukturen angenommen werden kann. Mittels
magnetisch kritischer Streuung konnte gezeigt werden, dass diese Filme einen
dimensionalen Übergang in dem Bereich zeigen, in dem die magnetische
Ordnungstemperatur und die magnetische Struktur signifikant von der des
Volumenkristalls abweicht.
Eine weitere neue Anwendung der resonanten Streuung im weichen Röntgenbereich
nutzt die deutliche Variation der mittleren freien Weglängen der Photonen an
starken Absorptionskanten. Die daraus resultierende Variierbarkeit der
Informationstiefe wurde ausgenutzt, um tiefenabhängige Profile der
magnetischen Struktur während des Phasenübergangs erster Ordnung zwischen der
ferromagnetischen und der helikal antiferromagnetischen Phase in Dy Filmen auf
W(110) zu untersuchen.
Die in dieser Dissertation erzielten Resultate eröffnen neue Perspektiven für
die Untersuchung komplexer magnetischer Strukturen in Lanthanid-basierten
Materialien und dünnen Filmen.
de
dc.rights.uri
http://www.fu-berlin.de/sites/refubium/rechtliches/Nutzungsbedingungen
dc.subject
magnetic x-ray scattering
dc.subject
resonant scattering
dc.subject
thin-film magnetism
dc.subject.ddc
500 Naturwissenschaften und Mathematik::530 Physik::530 Physik
dc.title
Magnetic Structures and Phase Transitions in Thin and Ultrathin Films of Heavy
Lanthanide Metals Investigated by Resonant Magnetic X-Ray Scattering
dc.contributor.firstReferee
Prof. Dr. Dr. h.c. Günter Kaindl
dc.contributor.furtherReferee
Prof. Dr. K. Horn
dc.contributor.furtherReferee
Dr. N. Brookes; Prof. Dr. G. H. Lander; Dr. M. Sac
dc.date.accepted
2004-07-02
dc.date.embargoEnd
2004-08-09
dc.identifier.urn
urn:nbn:de:kobv:188-2004001863
dc.title.translated
Magnetische Strukturen und Phasenübergänge in ultradünnen Filmen schwerer
Lanthanidmetalle untersucht mithilfe resonanter magnetischer Röntgenbeugung
de
refubium.affiliation
Physik
de
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FUDISS_thesis_000000001452
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http://www.diss.fu-berlin.de/2004/186/
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open access