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Kelvinsondenkraftmikroskopie im Ultrahochvakuum zur Charakterisierung von Halbleiter-Heterodioden auf der Basis von Chalkopyriten | 389 |
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04_kap3.pdf | 279 |
03_kap2.pdf | 147 |
10_bib.pdf | 136 |
09_anhang.pdf | 122 |
05_kap4.pdf | 103 |
07_kap6.pdf | 95 |
11_public.pdf | 94 |
08_kap7.pdf | 78 |
06_kap5.pdf | 77 |
01_inhalt.pdf | 76 |